二手 RUDOLPH Waferview 320 #9311788 待售
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RUDOLPH Waferview 320是设计用于半导体制造厂的尖端掩模和晶圆检测设备。该系统高度自动化,采用各种视觉和晶圆检测技术来检测和诊断任何现有缺陷,并为制造商提供对生产过程的前所未有的控制。从测量模具尺寸到分析颗粒，RUDOLPH Waferview单元提供了无与伦比的精度和可靠性。该机采用光学和X射线晶片检测技术进行了优化。Waferview 320使用可变入射角照明来捕获一致的图像进行审查和测量。此外,该工具还配备了12英寸自动缺陷审查转盘,并配备了可自动对准晶片的精确线性级。此外，资产的宏设备识别能力和模式识别能力允许快速和高效的检查过程。RUDOLPH Waferview 320还提供了一系列高级功能,旨在确保每次都能获得精确的结果。利用RUDOLPH专利的多模功能,用户可以根据需要快速轻松地在各种检查模式之间进行更改。Waferview 320还提供了用于缺陷分析和表征的高级技术,包括粒子分析、3D测量或轴识别,以及具有多级修补程序和双通道检测的高级缺陷区域测量。RUDOLPH Waferview 320也是高度可定制的。该模型可以量身定制以满足任何行业用户的需求，提供各种适合单个应用程序的选项。Waferview 320还可以适应一系列实验室配置和生产要求,确保随时间推移易于维护和升级。最后，RUDOLPH Waferview 320是一款健壮的设备，在整个检测过程中为用户提供前所未有的准确性和可靠性。无论是用于一般自动化、测试驱动、晶片级分析、粒子测量还是缺陷表征，Waferview 320都是任何半导体制造厂的资产。此外，系统直观的用户界面和快速的处理速度，让大家无论经验水平如何，都容易使用。
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