二手 RUDOLPH Waferview 320 #9311789 待售

RUDOLPH Waferview 320是一款面向半导体行业的领先、综合的掩模和晶圆检测设备。它将数字CMOS传感器与先进的软件编程技术相结合，提供了对各种缺陷的最高质量的成像和分析，以及对照片处理过的掩模和晶片的设计信息。Waferview 320每像素可提供高达2000微米的图像（比其他系统的分辨率高2倍）,从而确保了极其精确的缺陷检测和分析。其图像捕获和缺陷报告功能简化了全面检查晶片的过程，确保了产品的最高质量。RUDOLPH Waferview 320的一个独特特点是它的激光自动对焦和跟踪。该系统允许进行面向细节的成像和缺陷定位,这对于精确检查晶片至关重要。Waferview 320还利用了先进的边缘检测和对比度算法，允许对较小、较不明显的缺陷进行检测和分析。除了成像能力外，RUDOLPH Waferview 320还进行了广泛的测量以检测和分类缺陷。这些测量是以高精度进行的，允许测量尺寸小至单微米。Waferview 320的软件编程人性化、直观。它允许简单的设置和操作，允许用户轻松调整参数和定制检查单元，以满足他们的具体要求。此外,软件还提供了一份全面的用户报告,其中提供了有关检查过程中发现的任何缺陷的详细信息。总体而言，RUDOLPH Waferview 320面膜和晶片检测机是研究有缺陷或有缺陷的光处理面膜和晶片的一种多合一解决方桉。它提供了高级成像功能和缺陷测量,提供了最高的成像分辨率和质量,以及易于用户设置和操作。这些特性保证了对产品的准确检验，并产生了最佳的产品质量。