二手 RUDOLPH WV 320 #9355361 待售

製造商
RUDOLPH
模型
WV 320
ID: 9355361
晶圆大小: 12"
优质的: 2007
Macro defect inspection system, 12" 2007 vintage.
RUDOLPH WV 320是为半导体工业设计的高度先进的掩模和晶圆检测设备。它配备了最新的图像处理技术,以准确捕获和测量晶圆和面膜上发现的缺陷。该系统具有高分辨率光学元件和LED照明,可创建具有非凡细节的蒙版和晶片图像。RUDOLPH WV320的主框架安装简单、灵活,足以满足广泛的需求。它还配备了一个监视器接口,使操作员能够轻松监控晶圆的移动和缺陷位置。该装置旨在提供无与伦比的检测工作准确性,在检测缺陷方面提供卓越的性能。WV 320利用先进技术精确测量晶片和掩模。集成的2000万像素摄像头可拍摄高分辨率图像,分辨率高达1600万像素。这使机器能够检测到掩模和晶片中的微小和微观缺陷。集成软件进一步提供了特殊的缺陷对比,甚至区分了最轻微的缺陷。WV320还具有一个专门的软件,其中包括高级图像处理算法,可以检测和测量晶圆和掩码的特征。软件可以分析模式和缺陷,并将它们与已知的模式匹配,以进行精确的测量和结果。此外,RUDOLPH WV 320还包括一个直观的用户界面,允许操作员在同一个作业中设置晶圆参数和检查多个晶圆。它的自动重新校准确保精确的晶圆和掩模测量,使其成为任何半导体生产过程的宝贵资产。此外,该工具还具有广泛的数据报告输出格式,确保高效的数据存储和检索。总之,RUDOLPH WV320是一种创新的掩模和晶圆检测资产,旨在满足半导体行业的需求。它配备了先进的图像处理算法、2000万像素的摄像头、强大的光学元件以及直观的用户界面和输出格式,使其成为一个令人难以置信的可靠和通用的模型。此外,它在测量晶片和掩模方面的准确性使其成为任何半导体生产过程中的宝贵资产。
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