二手 RUDOLPH WV 320 #9391422 待售

RUDOLPH WV 320 Mask&Wafer Inspection设备是一种自动化的高性能系统,旨在提供快速准确的晶片缺陷检测。该设备利用最先进的高分辨率显微镜（HRM）自动评估晶圆和其他基板上的缺陷。该机器由一台大型计算机、一台高分辨率显微镜以及若干成像系统和探测器组成。RUDOLPH WV320 Mask&Wafer Inspection工具能够检测广泛的基板缺陷,包括开放缺陷、不完整的样品边缘和不均匀的材料厚度。该资产利用专门的相机模型和先进的软件对晶片和其他基板进行成像，分辨率高达10纳米。这使设备能够检测基板上的最小缺陷,从而实现缺陷检测的最高精度。WV 320 Mask&Wafer Inspection系统提供了一系列功能。它可以检测各种各样的材料，包括玻璃、硅片和聚合物基板。它还具有离子表面和选择性等内置特征。这允许用户选择希望设备查找的特定缺陷类型。此外,该机器还提供三个级别的缺陷检测,包括软缺陷和硬缺陷,以及基板条件的映射。该工具还提供了许多功能强大的软件功能，包括自动作业调度、基板验证和自动缺陷检查。它还具有高级企业级数据管理功能,允许用户搜索、存储和管理来自多个来源的数据。该资产还可以方便地与其他系统集成,从而实现缺陷信息从一个模型到另一个模型的无缝转换。WV320 Mask&Wafer Inspection设备旨在使晶片制造商和基材缺陷评估专业人员的生活更加轻松。它提供快速、准确的结果,用户干预最少,不需要专业知识或技能即可操作。该系统是任何晶片制造商寻求提高其在基板缺陷评估中的准确性和效率的理想选择。