二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9160895 待售
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ID: 9160895
Atomic Force Microscope (AFM)
Maximum sample size: 8” Diameter, 0.5” thick
Inspection area: 100 x 125 mm
Small samples: Magnetic holder < 15 mm diameter
Silicon wafers: 2”-8"
AFM Probe station with shockproof pressure balance system
Video zoom microscope
Integrated zoom optical microscope
Objective: 10x (Long working distance)
(2) TV Camera tubes
Motorized zoom system
Motorized focus
Lens illumination
Color video camera
Focus tracking and automated engagement
Magnification range:
410-1845x With 13” monitor
Field of view: 180-810 µm
Cantilever holder
Standard:
Tapping mode
Contact AFM, MFM
Fluid cell:
Fluid contact AFM
Fluid tapping mode
Parts includes:
AFM Probe station
D3100-1 AFM Probe and test bench
D3100HP-2 AFM NanoScope Dimension 3100 controller
NanoScope IV AFM Scanning probe microscope controller
AFM Control personal computer system:
ViewSonic VE 700 Dual screen system
PC: Intel pentium 4 CPU
DIGITAL INSTRUMENTS Keyboard
HBZ3CY400-4XX AFM Test platform manual mouse.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100扫描电子显微镜（SEM）是一种多功能、高性能的研究显微镜，设计用于材料分析、纳米加工等多种研究应用。VEECO Dimension 3100 SEM配备了高分辨率钨丝源、大样本室和场发射源，共同提供了一系列功能，包括成像、自动断层扫描、电子束光刻、微分析和材料表面分析。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100具有集成成像设备,允许用户以从亚纳米到微米的分辨率拍摄结构化和非结构化样品的3D图像。这样可以对材料表面进行极其精确的测量和成像，从而能够研究结构和纳米加工。集成的图像捕获和分析技术还允许对亚微米材料进行三维成像的自动断层扫描。维度3100还具有场发射源,允许极其精确的纳米级成像和分析。此功能允许使用功能强大的显微镜系统来检测和测量跨度小至1nm的对象。另外，由于磁场发射源的缘故，显微镜师可以达到比传统钨源好20倍的景深。这种改进的景深允许增强对精细细节的分析。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 SEM的大样本室也让使用者可以探索各种样本类型的高放大倍率。这个腔室可以处理尺寸从很大（大于10厘米）到很小（小于1厘米）的样品。它也是高度通用的，有各种各样的持有者可用于分析大大小小的样品。此外,该SEM还配备了自动级控制装置,可以精确定位样品,从而进一步提高了显微镜系统的性能。总体而言，VEECO Dimension 3100扫描电子显微镜是一个非常精确和通用的显微镜单元，非常适合多种研究应用，因为它能够探测到小至1nm的细节，它的大样本室、集成成像机和现场发射源。
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