二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9199313 待售

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100
ID: 9199313
Atomic Force Microscope (AFM) NS5 Controller Operating system: Windows 7 Vibration enclosure included.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100是一种扫描探针显微镜(SPM),它结合了物理探针尖端、控制器和计算机,以实现纳米级的成像。它由三轴粗扫描阶段和两轴垂直扫描阶段组成,两者都能使样品在x、y和z方向上精确移动。控制器配有压电扫描仪来控制尖端取样距离,以及压电驱动的x、y和z轴,用于取样位置的定位和反馈。控制器和计算机都集成到同一个工作站上,以方便和缩短安装时间。VEECO Dimension 3100提供两种独立的成像模式:接触模式和非接触(NC)模式。在接触模式下,显微镜的尖端与样品表面接触,然后扫描穿过它。图像是通过测量样品分子和探针尖端之间的力得到的。这种模式非常适合对柔软易碎的材料进行成像。或者,NC模式使曲面的成像和操作成为可能,其中尖端放置在距曲面近纳米的位置。然后可以通过测量样品与探针尖端之间的隧道电流差异来获得图像。这种模式适用于成像和操纵硬材料,如半导体。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100还能够使用Scanning-Fourier-Viewing (SFV)技术对表面过程进行实时监控,该技术记录信号从NSOM探测器接收到的相位或振幅。数据以自动化方式收集,而无需用户干预,这提供了分析动态曲面过程的能力。此外,SFV模式还启用了高分辨率光谱成像,这对于探索表面电子性质和分子尺度现象很有用。尺寸3100是一种成本效益高的纳米级成像和操作工具。其集成的工作站消除了对外部数据处理设备的需求,其用户友好的控制软件使其易于使用。该软件还便于数据处理和可视化,并提供了一些图形工具,以增强对结果的分析和可解释性。其可靠的成像和操作能力以及高效的操作使其成为生命科学、材料科学和电子学领域纳米技术研究的绝佳选择。
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