二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9203566 待售
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ID: 9203566
Atomic Force Microscope (AFM)
With motorized stages
Model: 3100S-1
Operating system: Windows XP
Includes:
TMC Air table
With DI Acoustic enclosure
DI Scanning head
Model: Dmlsg
Nanoscope controller: 3A
DI Extender box
Keyboard & trackball
LCD Computer monitor
Live monitor, 9".
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一种用于高级纳米尺度计量和表征的工具。它是一种计算机控制的扫描探针显微镜,既提供高质量的成像能力,又提供深度分析能力。3100具有先进的扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、磁力显微镜(MFM)以及环境模式的组合,以及二次电子成像(SEI)。VEECO Dimension 3100的STM部分使用户能够对低至0.1 nm的特征进行成像,从而可以观察单个原子和键。STM还允许对样品表面进行原位操作。这一特性使得测试催化反应、移动粒子和检查反应各个阶段的完整性成为可能。这可用于微电子学、纳米加工、药物开发等领域的研究。3100的AFM部分设计用于精确测量样品的物理特性,如表面粗糙度、滑移角度和摩擦。它通过用专门的探针扫描样品表面并解释收集到的信息来做到这一点。用户还可以测量样品上的力-距离曲线,这对于测量材料的机械和电气性能非常重要。MFM提供铁磁材料的静态和动态反馈。它利用洛伦兹力和磁力的组合来测量磁晶各向异性和域壁迁移率等性质。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100的MFM元件使磁性薄膜和其他纳米级传感器设计得以表征。Dimension 3100的环境模式使得研究不同条件下的材料成为可能,例如温度和压力。这一特性对于专注于半导体制造的研究尤其有用,因为它允许用户研究反应温度以及其他环境影响对制造工艺的影响。最后,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100的SEI组件允许以更高的放大倍数对样品表面进行成像。这使用户能够查看和分析样本上的晶界、接口和颠簸。SEI对于薄膜、纳米材料等相关领域的研究很有用。总之,VEECO Dimension 3100提供了一个功能强大的多功能工具,用于纳米级计量和表征。它结合了扫描隧道显微镜、原子力显微镜、磁力显微镜、环境模式和二次电子成像,为用户提供了全面的功能包。它是微电子学、纳米加工、药物开发等领域研究人员的理想选择。
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