二手 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9364489 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 9364489
Atomic Force Microscope (AFM)
Stage movement X and Y: 150 mm
With 2 micron resolution
Micron area viewing video optics: 150 - 675 Zoom
Piezo scan head range:
X and Y: 90 Micron
Z: 6 Micron
Sub nanometer resolution: 16 Bits DAC
Sample image size: Maximum 512 x 512
AFM Contact and tapping mode
Conductive AFM
STM
Liquid cell
Table and hood included
Does not include controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100是一种高速扫描探针显微镜(SPM),用于科学研究。它设计用于纳米级表面和材料的成像和操作。VEECO Dimension 3100通过其独特的控制和测量探针与表面之间的相互作用到原子水平的能力,能够达到前所未有的分辨率和准确性。它为成像、光谱、力测量和操作提供纳米尺度的控制。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100具有非接触式AFM(原子力显微镜)配置,具有大型交互式X-Y级。通过这种配置,显微镜可以测量精细的表面地形,同时表征静态和动态表面现象。此外,SPM能够在空气和流体环境中运行。Dimension 3100拥有先进的成像设备,能够进行复杂的操作,如电力显微镜(EFM)、电势显微镜(EPM)、导电原子力显微镜(CAFM)、开尔文探针力显微镜(Kelvin probe force mincopy,KPFM)。它还具有强大的三种成像模式--地形、表面和三维成像。在分辨率方面,VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100能够在z方向上达到0.5nm,与其他系统相比增加了测量和操纵的能力。此外,其压电组合反馈环路扫描系统显着提高了数据质量,降低了噪声,使得测量更加可靠。VEECO Dimension 3100还具有一个并行处理单元,它能够以更快的速度收集大量数据,从而使用户能够快速调查纳米结构。这台机器还允许用户同时进行多次实验,使其更加高效和高效。总之,DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100对于需要纳米级高级成像、表征和操作能力的科学家和研究人员来说,是一个非常宝贵的工具。凭借其独特的特性和功能,Dimension 3100能够为曲面测量和操作提供无与伦比的精度和控制级别。
还没有评论