二手 JEOL JSM 6010LA #9080849 待售

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ID: 9080849
Scanning electron microscope (SEM) Equipped with: Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) Silicon Drift Detector (SDD) onboard turbo pump Resolution High Vacuum mode: 4nm (20kV), 8nm (3kV), 15nm (1kV) Low Vacuum mode: 5nm (20kV) BSE Accelerating voltage 500V to 20kV Magnification x5 to x300,000 (printed as a 128mm x 96mm micrograph) LV detector Multi-segment BSED (std.) LV-SED (option) LV pressure 10 to 100 Pa Maximum specimen size Observation£º125mm diameter Loadable 152mm LGS type stage Eucentric goniometer X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm R=360¡ã (endless) Tilt -10/+90¡ã (Computer-controlled 2 or 3-axis motor drive) Frame Store Up to 5120¡Á3840 pixels EDS Standard (LA Version) Embedded EDS system (silicon drift detector technology) Includes: Spectral Mapping, Multi-Point Analysis, Automatic Drift Compensation Joel JSM-6010LA Microscopes Main Controls Table Top Table Base/Power Box Monitor Computer Cords and Cables Misc Accessories and Parts Voltage: 100 V Frequency: 50/60 HERTZ InTouchScope function: High resolution imaging in HV/LV/SE/BSE Chemical analysis with integrated EDS built (standard on LA model) Multi-touch screen control and wireless operation Automatic SEM condition setup based on sample type Simultaneous multiple live image and movie capture Fast sample navigation at 5x ¨C 300,000x magnifications.
JEOL JSM 6010LA是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于广泛的成像和分析应用。扫描电子显微镜使用户能够对其样品的外部表面形成二维图像。它经常被用于详细的地表和地形研究。该模型采用独特的双束技术,结合了加速电子枪和单色探测器,使常规微观分析和半导体故障分析成为可能。该仪器的高分辨率和高通量使其成为分析各种纳米材料和物体的理想选择。JSM 6010LA的高性能扫描电子显微照片提供了出色的成像能力。仪器对二次电子的分辨率为1 nm,反向散射电子的分辨率为0.25 nm。JEOL JSM 6010LA的分析能力全面。该仪器采用能量色散X射线光谱仪对样品进行元素分析,并采用射场发射枪进行深度剖析。光谱特征可用于测量X射线能量,精度为0.5 eV。能量色散X射线光谱定量提供无制备微量元素分析到ppm水平,没有任何样品制备。JSM 6010LA还拥有一个原位纳米机械测试工具,能够研究样品表面从弹性变形到塑性机械变形的特性。该工具用于分析经过断裂测试的材料的断裂表面。为方便操作和自动化,JEOL JSM 6010LA具有多项高级功能。它配有一个自动化的舞台控制系统和一个机动化的SEM柱,带有一个自动化的、自锁的系统来维持标本的位置。它还拥有一个液氮冷凝器,允许可变高度的样品持有者被处理。总体而言,JSM 6010LA是一种精确、可靠、高效的扫描电子显微镜,设计用于高级成像和分析。其出色的成像能力和高分辨率能力使其成为广泛研究的绝佳工具。
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