二手 JEOL JSM 6330F #9041540 待售

JEOL JSM 6330F是一种桌面式扫描电子显微镜，用于研究各种材料的微观结构或表面特征。该仪器利用电子束产生的二次电子，该电子束聚焦在试样表面上，以产生图像或分析材料的表面地形、组成或其他物理特性。JEOL JSM-6330F在高真空或低真空模式下运行,放大倍数可达32,000倍。JSM 6330 F的低真空模式允许在没有金属涂层的情况下制备非导电试样，如碳。这种模式还支持高导电材料的低真空成像，例如金。高真空模式提供了更短的工作距离，允许更大的工作区域和更精细的斑点大小。JSM-6330F能够成像为真色或假色。True color SEM允许以其自然颜色扫描样本,而false color SEM消除了任何颜色差异,因此图像完全以灰色阴影生成。JEOL JSM 6330 F配备了Everhart-Thornley二次电子检测器，以改善信噪比以及其他组件，如冷冻级、级加热和冷却级、可变压力级以及样品扫描自动化能力。附加的软件非常方便用户,包括一系列附加功能,如粒度映射、图像编辑、图像处理和定量分析。JSM 6330F是一种健壮、通用的SEM,非常适合查看和分析细小的特征,如微观断裂或微小的表面基体复合材料。E-T探测器的加入允许更大的探测器覆盖范围、更高的检测效率和更好的信噪比。JEOL JSM 6330F具有可自定义的软件选项和广泛的附件,是一种功能强大但价格合理的桌面扫描电子显微镜,用于研究学术和工业环境中的各种材料。