二手 JEOL JSM 6330F #9071903 待售

JEOL JSM 6330F
ID: 9071903
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6330F扫描电子显微镜(SEM)是对各种物体进行详细分析的通用工具。强大的多功能成像系统为各种样品类型提供出色的分辨率和高对比度。它紧凑的尺寸和轻巧的设计使得它受到各种规模的实验室的欢迎。JEOL JSM-6330F提供了多种成像技术,包括反向散射电子成像、二次电子成像、BSE彩色复合成像和STEM(扫描透射电子显微镜)。它还包括一个可变聚焦、一个专用的二次电子探测器和一个有效的列内能量滤波器。使用高功率逆变器,显微镜可以操作从15倍到200,000x以上的全范围放大率。JSM 6330 F由于其6轴电动样本架,可以处理范围广泛的样本类型,并提供精确的自动化样品准备和扫描。除了成像能力外,JSM-6330F还配备了三个先进的分析系统,能够进行复杂的分析,如EDS(能量色散光谱)、WDS(波长色散光谱)和EDX(能量色散X射线光谱)。这些系统允许对任何样品进行元素或组成分析。JEOL JSM 6330 F提供卓越的成像质量以及各种先进的分析能力。它强大的扫描和成像功能帮助用户获得高分辨率图像和高度准确的分析结果。它是需要可靠和通用SEM的各领域研究人员和科学家的理想工具。
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