二手 JEOL JSM 6330F #9131143 待售

JEOL JSM 6330F是一种先进的扫描电子显微镜（SEM）。它设计用于从表征小粒子到纳米级成像的一系列应用。这个SEM提供了几个有利的特点，包括一个集成的迷你柱设计，一个大的标本室，和一个扁平的标本阶段。65kV的微型柱设计允许精确的光束定位和图像质量。它允许在大面积上精确的光束定位，提供高分辨率的成像。这种SEM的分辨率在反向散射电子探测器上高达1.2纳米。图像放大倍率为0.3倍至300倍，分辨率为0.8纳米。大标本室可以容纳各种尺寸和构型的各种标本。这样就可以进行高效和一致的分析。SEM的阶段可以容纳高达100毫米大小的标本，从而实现了广泛的研究场景。JEOL JSM-6330F还允许高速自动成像。它能够在一次图像扫描中扫描多达5个不同的标本场。这对于需要多次扫描的研究或大面积的分析特别有用。这个SEM配备了几个探测器，用于收集各种类型的数据。其中包括二次电子探测器、反向散射电子探测器、低能电子探测器和能量色散光谱仪探测器。每种类型的探测器都提供不同种类的数据，这些数据可用于获取有关样本的更多信息。JSM 6330 F是纳米技术领域工作的最佳工具。它具有很高的分辨率以及自动成像能力，使研究人员能够研究纳米级的样品。这使得研究人员能够在纳米级上获得对材料结构和组成的宝贵见解。总体而言，JEOL JSM 6330 F是一种先进的扫描电子显微镜，提供了一系列的好处。它具有高分辨率成像、自动化成像、多探测器和大型标本室的能力。这使得它成为纳米级研究和应用的理想工具。