二手 JEOL JSM 6330F #9164163 待售

JEOL JSM 6330F是一种扫描电子显微镜（SEM），能够产生各种表面的高分辨率图像，分辨率低至50纳米。它的电子束成像系统配备了一个超高分辨率二次电子检测器，能够以10位（1024强度水平）对比度成像，从而能够详细分析样品在整个样品中的细微特征。这种仪器能够使用广泛的分析技术，从定向成像显微镜（OIM）、阴极光学显微镜（COM）和偶数傅立叶变换成像（EFTEM）。JEOL JSM-6330F配备了最先进的真空系统，泵送速度为20m3/hr。该真空系统提供10-6 mbar至10-2 mbar的压力范围，确保条件适合二次电子探测器和低能电子的操作。JSM 6330 F可以在不加热样品表面（冷级或热喷雾附件）的情况下操作，也可以使用可达到650°C温度的可选加热元件进行操作。JSM 6330F可以使用一系列分析技术进行编程。其能量色散X射线光谱（EDX）功能提供了一系列分析功能,包括元素映射、粒子成像和深度剖析等。粒子诱导X射线发射（PIXE）特性允许对具有高空间分辨率和灵敏度的样品进行非破坏性元素分析。二次电子显微镜（SEM）模式的JSM-6330F特别适用于成像配体处理结构和分子。其自动柱头功能提供了极低的图像像差,允许检测到纳米级以下的特征。经过能量过滤的成像模式能够分析细小的表面特征,例如分辨率低至50 nm的晶体结构。JEOL JSM 6330 F也可以在可变压力模式（VP）下操作，允许在传统的扫描电子显微镜（SEM）中成像可能因电子轰击而损坏的非导电样品。VP模式可以在10-1 mbar的大气层中执行,并提供独特的成像环境,即使在低至10nm的分辨率下也可以观察到非导电样品。最后,JEOL JSM 6330F配备了高级图像处理套件,提供增强的样本分析选项。图像处理软件允许自动图像分析、定量图像分析、3D重建以及其他类型的自动分析。它还允许以快速的重建速度对样品进行交互分析。总体而言,JEOL JSM-6330F是一个功能极其强大且用途广泛的SEM,能够以极高的分辨率生成高质量的图像,并具有多种分析功能。其先进的真空、加热和图像处理系统使其成为对仪器需求最大的研究人员的首要显微镜选择。