二手 JEOL JSM 6330F #9258244 待售

JEOL JSM 6330F是一种扫描电子显微镜（SEM），利用电子柱技术，适应包括图像分析、元素或化学分析工作、三维表面剖面图等多种技术。它设计用于纳米尺度成像和表面分析，图像分辨率高达1 nm。电子柱是一个强大的三场发射源，有两个枪柱和一个单独的电子光学柱。这允许以变化的光束能量进行高速扫描，这是产生高质量图像以及进行化学分析和测量所必需的。SEM具有高分辨率CCD摄像机和可变强度探测器,用于捕捉SEM图像。显微镜还配备了广泛的分析和成像能力。其中包括可用于识别构成样品的不同元素的反向散射电子（BSE）成像，以及能够检测和测量样品化学成分的X射线和能量色散光谱（EDS）分析技术。此外，JEOL JSM-6330F还配备了计算机控制的舞台系统，可以在成像过程中对标本进行精确的自动化和手动移动。软件还包括参数设置、图像采集和分析的自动功能,以及图像对比度和亮度的自动调整。显微镜还包括先进的3D模型构建能力，可用于创建样品的详细3D模型。模型构建软件为用户提供了快速创建高分辨率3D模型的界面。然后,3D模型可用于可视化样本以及进一步分析。总而言之，JSM 6330 F SEM是一种用于纳米尺度特征成像和分析的强大工具。它具有广泛的成像和分析功能,包括高级图像处理和3D建模功能,使其成为研究纳米材料的研究人员的理想工具。