二手 JEOL JSM 6330F #9288334 待售

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ID: 9288334
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6330F是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),具有无与伦比的成像功能。这种最先进的仪器利用二次电子(SE)、反向散射电子(BSE)、二次电子图像复合材料(SEIC)和可变收敛角技术来增强分辨率和图像对比度。JEOL JSM-6330F与其他SEM不同的一个特点是它的大视野,扫描模式高达20倍,最大分辨率为1 μ m。这大大扩展了成像的范围,允许用户以尽可能最好的细节捕捉更大、更复杂样本的图像。此外,JSM 6330 F配备了自动对焦检测器,无需用户干预即可快速重新聚焦,有助于确保最大图像精度。JSM-6330F有一个电子柱,能够在从5kV到30kV的五个加速电压之一下工作。这有助于对各种样品类型进行检查,从有机轻质材料到大型和小型金属合金。通过调整工作电压,可以在样品中识别出更精细和更尖锐的细节,并将意外损坏的风险降至最低。该仪器设计为提供最大的多功能性,同时仍然易于使用。JEOL JSM 6330 F具有直观的用户界面和自动采样阶段,可快速可靠地设置和对齐采样以进行分析和对齐。它还具有粒子计数等自动化功能,以提供对样本的额外见解。JSM 6330F的其他特点包括带有粗加工泵的真空系统、防止样品损坏的整体样品冷却系统,以及用于改进信底噪声比的离子发射检测器。所有这些加起来使得JEOL JSM 6330F一个特殊的研究工具,科学家在各个领域。
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