二手 SEIKO SMI 3200 #9025735 待售
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已售出
ID: 9025735
High performance FIB SEM system
Specifications:
Secondary electron image resolution: 4 nm
Maximum probe current density: 30 A/cm2 or more
Maximum probe current: 20 nA
Observation field: 0.5 x 0.5 um to 2 mm
Beam irradiation position stability: 0.1 um/10 min
Acceleration voltage: 5 to 30 kV
Ion source: Ga liquid metal needle ion source
Guaranteed running time: 1000 h
Maximum acceleration voltage: 30 kV
Ion source control: Filament current, suppression electrode, extraction electrode
Lens: Electrostatic type
Blanking: Electrostatic type
Optical axis correction: Electrostatic type
Stigmator correction: Electrostatic type
Adjustable aperture: 2-Axis motor drive
XY Deflector: Electrostatic type
Scan rotation: 0~359.9º / 0.1º Step setting
Currently in storage
2006 vintage.
SEIKO SMI 3200是一种功能强大且可靠的扫描电子显微镜（SEM），非常适合广泛的应用。它具有涡轮泵,可产生高达5 x 10-4 Pa的极致真空,其独特的可变光束技术可提供高达8mm的出色成像分辨率。SMI 3200包括一个内置的扫描电子显微镜检测器，可以针对特定类型的样品分析进行调谐，它提供了最高的灵敏度和分辨率可用。它还配备了先进的计算机控制器,可确保数据和图像在操作人员最小的干预下快速、轻松地显示出来。此外,SEIKO SMI 3200还促进了数字成像,能够获取各种大小的实时实时图像,并能够分析从10nm到几百微米的图像。SMI 3200配备了超高分辨率相机和可变视场,可让操作员以任何放大倍率聚焦表面的任何区域,而无需调整焦点。此外，该探测器还可与晶体元素理想的光场成像等特性配合使用；对比度增强，可以在样品表面上描绘纳米级的精细结构；和双束成像，可结合二次电子和反向散射电子进行3D图像。SEIKO SMI 3200极为人性化，具有高度直观的图形用户界面，允许快速轻松的设置和操作。此外，扫描电子显微镜便于屏幕上的数据显示，从而能够立即反馈图像分析结果。总之，SMI 3200是一种可靠而强大的扫描电子显微镜，非常适合各种成像应用。其卓越的性能、用户友好的设计和可靠的操作使其成为分析和成像非常小到非常大规模样品的完美工具。
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