二手 SEIKO SMI 3200 #9095358 待售

SEIKO SMI 3200
ID: 9095358
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM).
SEIKO SMI 3200是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),旨在为各种应用提供高质量的成像。此型号由SMI生产,能够提供从3 nm到100 mm的各种分辨率。它还拥有1 nm至1,000 μ m的成像景深。SMI 3200具有数字信号处理系统以及自动优化功能。高级光线跟踪算法的包含为用户提供了一个具有低噪声水平的异常锐利的图像。SEIKO SMI 3200能够在多种环境条件下运行,包括温度在-25°C至+40°C之间。它还有一个静电透镜系统,装在真空室中,具有柔性扫描区域。SMI 3200电磁束探测器提供了广泛的灵敏度范围,介于每秒0.1至10光子之间。这有助于确保图像质量不受影响,即使在分析吸收系数低的样品时也是如此。SEIKO SMI 3200还提供了一系列控制显微镜的自动化过程。这包括自动化优化功能,如自动聚焦、自动波束电流、自动点大小和自动定位。最后,SMI 3200有多种硬件和软件选项。它配备了多种成像工具,如成像系统、探测器和SEM基座,它们都与各种SEM兼容。这些工具有助于为用户提供最佳的映像体验。除硬件外,SEIKO SMI 3200还提供了广泛的软件工具,用于数据处理和分析。这包括模式识别和数据分割、自动对比度测量、3D渲染和语言处理等工具。总体而言,SMI 3200是SEM的绝佳选择,可为用户提供广泛的映像和控制功能。SEIKO SMI 3200从其广泛的分辨率到其先进的光线追踪算法和健壮的软件工具,都是科学研究和工业应用的优越工具。
还没有评论