二手 SEIKO SMI 3200 #9116789 待售
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ID: 9116789
FIB System
Advertised resolution: 4nm
Currently achieved resolution: <5nm
Load time: 2’33”
Sample size/stage movement: 8”
Stage tilt: -5o to 60o
Imaging options: secondary electron, secondary ion
Etching capabilities: Ga ion beam, rate dependent on area.
SEIKO SMI 3200是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于在广泛的样品上进行高分辨率的数字成像。它能够将样品放大至500,000X，并配有提供最佳分辨率和对比度的高性能电子光学透镜。它具有场发射源，使其具有很高的一致亮度水平。另外，它的有源反向散射电子检测器能够用相应的元素图进行详细的成像。它的快速采样阶段包括为扫描和倾斜运动设计的溷合体。这样就可以对4,000 mm2的面积进行自动、精确的扫描,并对样品表面进行直接成像。低真空（LVA-SEM）操作为非导电样品成像提供了理想的环境。它还配备了具有短抽水时间和高分辨率成像功能的可变压力设备。SMI 3200配备了X射线（EDS/WD）探测器，具有高精度的3D对准和精炼系统，对采样区域提供高分辨率的观测和定量分析。而且显微镜还兼容SEIKO RedFilm进行晶体取向分析。此外，其集成操作单元与直观的图形界面易于使用。显微镜还能够捕捉到高分辨率的SEM图像，并提供数据转换成常用格式以进一步分析。此外，它的高速数据传输机通过将图像和定量数据从仪器快速传输到主机来促进分析。总体而言,SEIKO SMI 3200是那些寻求高性能SEM的用户的理想选择。它具有高分辨率的电子光学透镜和BSE探测器，在成像和元素映射方面提供了无与伦比的精度。此外，它的低真空操作、溷合采样阶段、EDS检测器、直观操作工具都使这款SEM成为数字成像和分析的绝佳选择。
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