二手 BRUKER Contour GT-X8 #9399868 待售

BRUKER Contour GT-X8是一种最先进的晶圆测试和计量设备,旨在满足半导体器件表征最苛刻的要求。它提供了一套广泛的工具,可以描述各种材料、设备结构和几何形状。该系统配备了一个大的工作区域，具有高度精确和可重复的10nm螺距步进级以及一个非接触光学表面剖面仪和用于3D地形测量的高度传感器。轮廓GT-X8对半导体器件上的纳米级临界尺寸（CD）进行快速、高精度的步进扫描测量。高通量操作确保了即使是最复杂的结构的高效表征。BRUKER Contour GT-X8利用一系列先进的成像和测量技术，包括散射测量、光学干涉显微镜、太赫兹光谱和声学显微镜来提供设备结构的全面表征。可以现场测量各种物理和电气参数，包括板材电阻、表面平整度、厚度、沉积速率、表面粗糙度、纳米结构轮廓和材料组成。轮廓GT-X8可以与原子力显微镜、椭圆偏振和纳米压痕等其他工具集成在一起，以提供额外的表征功能。此外，该单元还可以连接到高性能计算机上进行数据分析和可视化。该机器还配备了用户友好软件，用于自动设置和数据收集。直观的界面允许精确的参数设置和高级数据管理。该工具的高级分析功能可用于查看和比较来自不同扫描的数据,以确保数据的准确性和可重复性。总体而言，BRUKER Contour GT-X8为纳米结构的可靠、准确和无损特性提供了一个完全集成的平台。该资产先进的成像、测量和分析纳米级结构的能力使其成为半导体行业研发的重要工具。