二手 BRUKER / SLOAN DEKTAK IIA #293615478 待售

BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA晶片测试和计量设备提供了对半导体晶片、基板和其他微电子元件表面地形的精确和高效测量。该系统利用先进的光学干涉测量技术，以较快的扫描速度和精度测量高纵横比沟槽、深度和高度。Dektak BRUKER IIA为方便晶圆尺寸从50毫米到200毫米，配备了放大的光学腔室。该单元支持具有10 µm位置精度的大型200 mm晶片，并具有晶片位置、自动对焦和凹式晶片倾斜调节的全软件控制功能。Dektak SLOAN DEKTAK IIA具有控制扫描过程的直观图形用户界面。用户界面提供了一个易于使用的菜单机器来设置测量工具。Dektak IIA还包括资产调整程序和各种数据分析工具,以确保测量速度和准确性。使用标准解析器校准功能,用户可以轻松地为其应用程序选择最佳测量分辨率设置。Dektak BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA以其先进的多坐标横截面和扩展扫描功能支持全晶圆映射。此功能使用户能够在晶圆的整个表面上测量到3维深度、高度和轮廓。通过自动高度优化软件,Dektak BRUKER IIA能够自动调整测量头的高度水平以保持一致的测量结果。总体而言，SLOAN DEKTAK IIA晶片测试和计量模型是分析半导体晶片和其他微电子元件表面地形的强大、准确和可靠的设备。Dektak IIA具有直观的图形用户界面、可调节的测量头的高度水平以及各种数据分析工具,非常适合许多不同的测量应用。