二手 BRUKER / SLOAN DEKTAK XT #9184680 待售

BRUKER/SLOAN DEKTAK XT是一种晶圆测试和计量设备，用于测量晶圆和薄膜样品的高度、厚度、面积和其他相关特性。该系统由高速、高分辨率的非接触式触控笔剖面仪、用于大面积平面度映射应用的大型面积测量头（AMH）和用于映射有限面积平面度测量平面度的可选低倾角头组成。剖面仪包括用于精确控制扫描参数的线性轴和旋转轴。主测量头是一种非接触式压电换能器，使操作方便可靠。BRUKER XT设计用于对各种基板上的复杂表面地形进行可靠、准确、可重复的测量和映射。该单元包括颜色编码的手动和自动测量阶段,这些阶段可以配置为多种格式,从而提供多种应用程序可能性。其用户友好和直观的软件为直观的数据操作提供了各种各样的分析和数据显示选项。该机器包括一个自动步进/跳转轮廓,用于以线性或径向模式导航样本,从而能够测量平滑轮廓。SLOAN DEKTAK XT还具有几个可选附件,这些附件旨在增强工具的测量性能。其中包括用于高精度z定位的星形自动聚焦装置，以及用于测量振动样品的可选振动台。该资产还提供各种用于温度控制测量的设备，包括烤箱、Peltier电源、灯电源、声学石英隔振底座和磁场校准套件。XT是准确、可靠、可重现的，被设计为一种易于使用的用于整个过程控制的测量仪器。它非常适合半导体、电子、数据存储、生物技术、玻璃和材料行业的质量保证和研究应用。DEKTAK BRUKER/SLOAN DEKTAK XT具有低噪声漂移特性的非接触式手写笔测量功能,可提供平滑可靠的数据和可追踪的结果。这些特性使其成为精确和可重复测量小规模关键特征的理想工具，否则这些特征很难使用标准扫描电子显微镜进行测量。