二手 E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q #9227071 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q是一种尖端设备,可精确测量用于各种制造应用的晶片。这个系统配备了一个多功能平台，可以以多种不同的方式使用。该单元用于测量和分析晶片的物理特性,如厚度、平坦度、曲率、粗糙度和倾斜度。E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q配备了多种不同的技术，可以进行精确和精确的测量。用干涉传感机测量晶圆的表面轮廓。这种精确的技术还能够测量表面的微小增量变化，确保晶圆地形的准确表示。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q还采用了专门的光学探测工具，能够以令人难以置信的精度测量晶圆的厚度。此资产可以收集有关晶圆的物理特性（如厚度、均匀性、不均匀性、曲率和倾斜）的大量数据。此外，还可以使用多焦点成像窗口以极详细的方式捕捉晶圆的图像。该模型还配备了许多自动化和基于软件的功能，大大简化了测试和计量过程。该设备具有快速连续测量多个晶片的能力,手动输入最少。软件系统还可用于存储生成的数据，并根据预定参数自动进行分析。E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q是能保证准确结果的高性能单元。它结合了先进的技术和自动化的特性，使它成为任何人寻找一个先进的晶圆测试和计量机器的理想选择。