二手E+H METROLOGY MX 204-8-25-q待售

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E+H METROLOGY MX 204-8-25-Q #9227071

E+H METROLOGY

MX 204-8-25-Q

Wafer geometry gauge Size: 125 x 125 and 156 x 156 Thickness range: 200 µm to 600 µm Accuracy: 1 µm
96
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