二手 LEITZ LIS #293598594 待售

LEITZ LIS是尼康计量公司开发的先进晶圆测试和计量设备，帮助半导体制造商降低测试和测量其产品所需的成本、复杂性和时间。它结合了高分辨率激光干涉仪的威力和先进的成像技术，为制造商提供了所需的性能和精度。LIS系统由高度敏感的激光干涉仪组成，它以3D测量晶片表面，精度高达0.1纳米。激光干涉仪用于精确测量晶圆的最大表面轮廓，以及其偏差或微结构特征。成像装置以高达5000倍的高倍率捕捉晶片表面的图像，发现常规光学显微镜无法看到的任何缺陷、缺陷和异常。成像技术为客户提供晶片表面的非常详细的表示,使他们能够识别任何潜在问题,并在需要时采取纠正措施。LEITZ LIS还提供了一个全面的计量包，设计用于分析晶圆几何的各个方面，如表面粗糙度、线性度、直线度、平行性和角度。此外，该机还可用于检测晶片或晶片上的电位应力和应变模式，以及晶片上的基板和氧化物层的折射率。LIS是一种易于使用和全面的工具，具有彻底改变晶圆测试和计量行业的潜力。它提供了高精度、重复性和准确性,以及集成的分析解决方桉,使制造商能够快速识别任何潜在的缺陷和异常,从而减少制造时间和成本。LEITZ LIS是寻找可靠和先进晶圆测试和计量资产的半导体制造商的理想解决方桉。