二手KLA / TENCOR / LEICA / VISTEC LDS 3300M待售

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KLA / TENCOR / LEICA / VISTEC LDS 3300M #9127882

KLA / TENCOR / LEICA / VISTEC

LDS 3300M

Macro defect inspection system, 8"-12" Wafer type: Bare and pattern Wafer surface inspection Macro m
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