二手 JEOL JSM 6335F #293609259 待售

JEOL JSM 6335F是一种扫描电子显微镜（SEM），用于成像样品和测量表面地形。它是一种配备了冷场发射枪（Cold Field Emission Gun，Cold FEG）的现场发射SEM（FE-SEM），用于优化样品成像和充电。这允许了更高的电子束电流，改进的分辨率，以及在访问各种类型的样品材料时更大的灵活性。JSM 6335F配备了可变压力超高真空扫描电子柱，提供0.1至0.09 Pa的可变压力范围，这套导航系统在10 mm的客观距离上提供了0.05 um精度的卓越导航性能。SEM还具有数字信号处理器（DSP）控制的自动偏转功能,使用户能够解决复杂且具有挑战性的样本分析方桉。这个SEM设计有几个分析特点，包括元素和化学分析，X射线成像和制图，电子和光子诱导的二次电子成像，以及X射线能量色散光谱（XEDS）。此外,该SEM还配备了一整套分析工具,包括反向散射电子衍射（BSED）、高分辨率反向散射电子（HRBE）成像、用于纹理分析的极点图形成像（PFI）和低压反向散射电子（LVBE）成像。JEOL JSM 6335F与从薄膜结构到干燥生物标本的各种样品架兼容，以及不同几何形状和大小的各种样品。此外,SEM还包括一个亮场检测器（BF）、暗场检测器（DF）和一个长工作距离（LWD）检测器,可以在长达4毫米的距离上对样品进行成像。JSM 6335F SEM具有300 × 300 mm的工作室,可处理直径可达180 mm的样品尺寸。JEOL JSM 6335F是一种可靠高效的SEM,可为用户提供准确、详细的图像。6335F的总体设计提供了灵活性和卓越的成像功能,使其成为各种应用（从研究到工业设置）的理想SEM。